Uitrustingsdetails
Tekst
High Resolution X-Ray Diffraction for the analysis of phase composition, thickness, roughness and defects in the thin layers. Applied also for the analysis of polycrystalline and disordered materials and for analysis of artificial structures.
×
![]()
Vingerafdruk
Verken de onderzoeksgebieden waarvoor deze uitrusting is gebruikt. Deze labels worden gegenereerd op basis van de gerelateerde outputs. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.