Uitrustingsdetails
Tekst
Surface analysis equipment for the outermost atomic layer of a test sample. A system of electromagnetic lenses fires inert gas ions at the material under investigation. The energy spectrum of the rebounding ions is measured and this energy spectrum can be interpreted as a mass spectrum for the sample surface.
Details
Naam | Ion Analyzer LEIS |
---|---|
Fabrikanten | Equipment & Prototype Center |
×
Vingerafdruk
Verken de onderzoeksgebieden waarvoor deze uitrusting is gebruikt. Deze labels worden gegenereerd op basis van de gerelateerde outputs. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.