Ion Analyzer LEIS

    H.H. Brongersma (Manager)

Uitrusting/faciliteit: Uitrusting

  • Locatie

    Nederland

Uitrustingsdetails

Tekst

Surface analysis equipment for the outermost atomic layer of a test sample. A system of electromagnetic lenses fires inert gas ions at the material under investigation. The energy spectrum of the rebounding ions is measured and this energy spectrum can be interpreted as a mass spectrum for the sample surface.

Details

NaamIon Analyzer LEIS
FabrikantenEquipment & Prototype Center

Vingerafdruk Verken de onderzoeksgebieden waarvoor deze uitrusting is gebruikt. Deze labels worden gegenereerd op basis van de gerelateerde outputs. Samen vormen ze een unieke vingerafdruk.