WIPO PUBLISHES PATENT OF NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST-NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO FOR "METHOD OF DETERMINING AN OVERLAY ERROR, MANUFACTURING METHOD AND SYSTEM FOR MANUFACTURING OF A MULTILAYER SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVI

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

Periode28 mei 2017

Media-aandacht

1

Media-aandacht

  • TitelWIPO PUBLISHES PATENT OF NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST-NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO FOR "METHOD OF DETERMINING AN OVERLAY ERROR, MANUFACTURING METHOD AND SYSTEM FOR MANUFACTURING OF A MULTILAYER SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVI
    Media naam/outletUS Fed News
    Land/RegioVerenigde Staten van Amerika
    Release datum28/05/17
    PersonenHamed Sadeghian Marnani