WIPO PUBLISHES PATENT OF NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST-NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO FOR "METHOD OF AND SYSTEM FOR PERFORMING DEFECT DETECTION ON OR CHARACTERIZATION OF A LAYER OF A SEMICONDUCTOR ELEMENT OR SEMI-MANUFACTURED SEMICONDUCTOR

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

Periode12 mrt 2018

Media-aandacht

1

Media-aandacht

  • TitelWIPO PUBLISHES PATENT OF NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST-NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO FOR "METHOD OF AND SYSTEM FOR PERFORMING DEFECT DETECTION ON OR CHARACTERIZATION OF A LAYER OF A SEMICONDUCTOR ELEMENT OR SEMI-MANUFACTURED SEMICONDUCTOR
    Media naam/outletUS Fed News
    Land/RegioVerenigde Staten van Amerika
    Release datum12/03/18
    PersonenHamed Sadeghian Marnani