WIPO PUBLISHES PATENT OF NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST-NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO FOR "METHOD OF AND SYSTEM FOR DETERMINING AN OVERLAY OR ALIGNMENT ERROR BETWEEN A FIRST AND A SECOND DEVICE LAYER OF A MULTILAYER SEMICONDUCTOR DEVICE" (D

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

Periode25 jul 2018

Media-aandacht

1

Media-aandacht

  • TitelWIPO PUBLISHES PATENT OF NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST-NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO FOR "METHOD OF AND SYSTEM FOR DETERMINING AN OVERLAY OR ALIGNMENT ERROR BETWEEN A FIRST AND A SECOND DEVICE LAYER OF A MULTILAYER SEMICONDUCTOR DEVICE" (D
    Media naam/outletUS Fed News
    Land/RegioVerenigde Staten van Amerika
    Release datum25/07/18
    PersonenHamed Sadeghian Marnani