US Patent Issued to Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuuurwetenschappelijk onderzoek TNO on Sept. 15 for "Method of and system for performing defect detection on or characterization of a layer of a semiconductor element or semi-manufactured semico

Media-aandacht

• Titel	US Patent Issued to Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuuurwetenschappelijk onderzoek TNO on Sept. 15 for "Method of and system for performing defect detection on or characterization of a layer of a semiconductor element or semi-manufactured semico
  Media naam/outlet	US Fed News
  Land/Regio	Verenigde Staten van Amerika
  Release datum	16/09/20
  Personen	Hamed Sadeghian Marnani