US Patent Issued to Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuuurwetenschappelijk onderzoek TNO on Sept. 15 for "Method of and system for performing defect detection on or characterization of a layer of a semiconductor element or semi-manufactured semico

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

Periode16 sep 2020

Media-aandacht

1

Media-aandacht

  • TitelUS Patent Issued to Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuuurwetenschappelijk onderzoek TNO on Sept. 15 for "Method of and system for performing defect detection on or characterization of a layer of a semiconductor element or semi-manufactured semico
    Media naam/outletUS Fed News
    Land/RegioVerenigde Staten van Amerika
    Release datum16/09/20
    PersonenHamed Sadeghian Marnani