US Patent Issued to Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO on March 9 for "Heterodyne atomic force microscopy device, method and lithographic system" (Dutch Inventors)

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

Periode10 mrt. 2021

Media-aandacht

1

Media-aandacht

  • TitelUS Patent Issued to Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO on March 9 for "Heterodyne atomic force microscopy device, method and lithographic system" (Dutch Inventors)
    Media naam/outletUS Fed News
    Land/RegioVerenigde Staten van Amerika
    Release datum10/03/21
    PersonenHamed Sadeghian Marnani
Alle bekijken 1
Minder bekijken