Pers/media zoeken

1/07/21

1 item van Media-aandacht

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

US Patent Issued to Koninklijke Philips on June 2 for "Apparatus and method for measuring the quality of an extracted signal" (Dutch, French Inventors)

3/06/20

1 item van Media-aandacht

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

US Patent Issued to Koninklijke Philips on March 10 for "Sensor system and method for determining a breathing type" (Dutch Inventors)

10/03/20

1 item van Media-aandacht

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

US Patent Issued to KONINKLIJKE PHILIPS on May 10 for "Light feedback on physical object selection" (Dutch Inventors)

Tatiana Lashina

12/05/16

1 item van Media-aandacht

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

US Patent Issued to KONINKLIJKE PHILIPS on May 12 for "Device, system and method for extracting physiological information" (German Inventor)

13/05/20

1 item van Media-aandacht

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

US Patent Issued to KONINKLIJKE PHILIPS on May 28 for "Apparatuses and methods for improved encoding of images for better handling by displays" (Dutch, Belgian Inventors)

29/05/19

1 item van Media-aandacht

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

US Patent Issued to KONINKLIJKE PHILIPS on Nov. 19 for "Device and method for determining vital signs of a subject" (Dutch Inventor)

20/11/19

1 item van Media-aandacht

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

US Patent Issued to KONINKLIJKE PHILIPS on Nov. 1 for "Distortion reduced signal detection" (Dutch Inventors)

3/11/16

1 item van Media-aandacht

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

US Patent Issued to Koninklijke Philips on Oct. 20 for "System and method for myocardial perfusion pathology characterization" (Dutch Inventors)

Marcel Breeuwer

21/10/20

1 item van Media-aandacht

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

US Patent Issued to KONINKLIJKE PHILIPS on Oct. 26 for "Device, system and method for obtaining a vital signal of a subject" (Dutch Inventors)

27/10/21

1 item van Media-aandacht

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

US Patent Issued to KONINKLIJKE PHILIPS on Oct. 27 for "Device, system and method for skin detection" (Dutch Inventors)

28/10/20

1 item van Media-aandacht

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

US Patent Issued to KYOTO UNIVERSITY, STANLEY ELECTRIC on July 13 for "Illumination device" (Japanese Inventors)

Shunsuke Murai

13/07/21

1 item van Media-aandacht

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

US Patent Issued to NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST-NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO on April 13 for "Atomic force microscopy device, method and lithographic system" (Dutch Inventors)

14/04/21

1 item van Media-aandacht

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

US Patent Issued to Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO on April 26 for "Productivity of equilibrium-restricted reactions" (Dutch Inventors)

Jurriaan Boon

27/04/22

1 item van Media-aandacht

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

US Patent Issued to Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO on Aug. 18 for "Method of tuning parameter settings for performing acoustic scanning probe microscopy for subsurface imaging, scanning probe microscopy system,

19/08/20

1 item van Media-aandacht

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

US Patent Issued to Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO on Dec. 1 for "Thermal nanolithography method and system" (Dutch Inventor)

2/12/20

1 item van Media-aandacht

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

US Patent Issued to Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO on Dec. 3 for "Method of positioning a carrier on a flat surface, and assembly of a carrier and a positioning member" (Dutch Inventors)

4/12/19

1 item van Media-aandacht

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

US Patent Issued to Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO on Dec. 8 for "Method of and system for determining an overlay or alignment error between a first and a second device layer of a multilayer semiconductor devic

9/12/20

1 item van Media-aandacht

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

US Patent Issued to Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO on Jan. 11 for "Distance sensor, alignment system and method" (Dutch Inventor)

12/01/22

1 item van Media-aandacht

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

US Patent Issued to Nederlandse Organisatie Voor Toegepast-Natuurwetenschappelijk Onderzoek TNO on Jan. 9 for "Array antenna feed structures" (Dutch Inventors)

G. Gerini

10/01/18

1 item van Media-aandacht

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

US Patent Issued to NEDERLANDSE ORGANISATIE VOOR TOEGEPAST-NATUURWETENSCHAPPELIJK ONDERZOEK TNO on July 20 for "Method of performing atomic force microscopy with an ultrasound transducer" (Dutch Inventors)

21/07/21

1 item van Media-aandacht

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

US Patent Issued to Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO on June 15 for "Atomic force microscopy system, method for mapping one or more subsurface structures located in a semiconductor device or for monitoring lithog

16/06/21

1 item van Media-aandacht

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

US Patent Issued to Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO on June 8 for "Method of and system for detecting structures on or below the surface of a sample using a probe including a cantilever and a probe tip" (Dutch I

9/06/21

1 item van Media-aandacht

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

US Patent Issued to Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO on March 16 for "Method of and system for performing detection on or characterization of a sample" (Dutch Inventors)

17/03/21

1 item van Media-aandacht

Pers / media: Vakinhoudelijk commentaar

US Patent Issued to Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO on March 29 for "Method, atomic force microscopy system and computer program product" (Dutch Inventors)