IEEE International Workshop on Testing Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits

Activiteit: Types deelname aan of organisatie van een evenementWorkshop, seminar, cursus of expositieWetenschappelijk

Beschrijving

Founder and Program Chair
Periode8 okt 20159 okt 2015
EvenementstypeWorkshop
LocatieAnaheim, Verenigde Staten van Amerika, California
Mate van erkenningInternationaal