IEEE International Workshop on Testing Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits

Activiteit: Types deelname aan of organisatie van een evenementWorkshop, seminar, cursus of expositieWetenschappelijk

Beschrijving

Founder and Program Chair
Periode23 okt. 201424 okt. 2014
EvenementstypeWorkshop
LocatieSeattle, Verenigde Staten van Amerika, WashingtonToon op kaart
Mate van erkenningInternationaal