IEEE International Workshop on Testing Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits

Activiteit: Types deelname aan of organisatie van een evenementWorkshop, seminar, cursus of expositieWetenschappelijk

Beschrijving

Founder and Program Chair
Periode4 nov. 20105 nov. 2010
EvenementstypeWorkshop
LocatieAustin, Verenigde Staten van Amerika, TexasToon op kaart
Mate van erkenningInternationaal