IEEE International Workshop on Testing Three-Dimensional Stacked Integrated Circuits

Activiteit: Types deelname aan of organisatie van een evenementWorkshop, seminar, cursus of expositieWetenschappelijk

Beschrijving

Founder and Program Chair
Periode12 sep. 201313 sep. 2013
EvenementstypeWorkshop
LocatieAnaheim, Verenigde Staten van Amerika, CaliforniaToon op kaart
Mate van erkenningInternationaal