Dutch Model Checking Day, Delft

Voeten, J. (Uitgenodigde spreker)

Activiteit: Types gesprekken of presentatiesGenodigd sprekerWetenschappelijk

Beschrijving

Performance prediction and optimization for wafer scanners
Periode17 jun 2011
EvenementstitelDutch Model Checking Day, Delft: null
EvenementstypeCongres