Invloed van bias-temperatuurbehandeling op 1/f ruis en oppervlakte-toestandsdichtheid in MOS-transistoren

  • L.S.H. Dik

Student thesis: Master

Date of Award31 Mar 1980
Original languageDutch
SupervisorF.N. Hooge (Supervisor 1)

Cite this

Documents

  • full text

    File: application/pdf, 2.72 MB

    Type: Thesis

'