Een instrument voor het meten van de potentiaalverdeling op het oppervlak van een halfgeleider bij 77 K met een tijdresolutie van 1 ns

  • W.C. de Zeeuw

Student thesis: Master

Abstract

Date of Award31 Aug 1976
Original languageDutch
SupervisorR.G. van Welzenis (Supervisor 1) & C.A.A.J. Greebe (Supervisor 2)

Cite this

'