"PEEKEL" verwerkingsprogramma voor metingen met een peekel CA 110 rekmeetsysteem, een 16 kanaals scanner en een DANA universeelmeter

J.G.A.M. van Heck, K.T.M. Koekkoek, J.M.M. IJzermans

Research output: Book/Report › Report › Popular

66 Downloads (Pure)

Original language	Dutch
Place of Publication	Eindhoven
Publisher	Technische Hogeschool Eindhoven
Number of pages	27
Publication status	Published - 1983

Name	DCT rapporten
Volume	1983.048

WE 1983.048

Access to Document

@book{6fcebd3ebc5849298d41a86c02d01e05,

title = "{"}PEEKEL{"} verwerkingsprogramma voor metingen met een peekel CA 110 rekmeetsysteem, een 16 kanaals scanner en een DANA universeelmeter",

author = "{van Heck}, J.G.A.M. and K.T.M. Koekkoek and J.M.M. IJzermans",

note = "WE 1983.048",

year = "1983",

language = "Nederlands",

series = "DCT rapporten",

publisher = "Technische Hogeschool Eindhoven",

}

TY - BOOK

T1 - "PEEKEL" verwerkingsprogramma voor metingen met een peekel CA 110 rekmeetsysteem, een 16 kanaals scanner en een DANA universeelmeter

AU - van Heck, J.G.A.M.

AU - Koekkoek, K.T.M.

AU - IJzermans, J.M.M.

N1 - WE 1983.048

PY - 1983

Y1 - 1983

M3 - Rapport

T3 - DCT rapporten

BT - "PEEKEL" verwerkingsprogramma voor metingen met een peekel CA 110 rekmeetsysteem, een 16 kanaals scanner en een DANA universeelmeter

PB - Technische Hogeschool Eindhoven

CY - Eindhoven

ER -