"PEEKEL" verwerkingsprogramma voor metingen met een peekel CA 110 rekmeetsysteem, een 16 kanaals scanner en een DANA universeelmeter

J.G.A.M. van Heck, K.T.M. Koekkoek, J.M.M. IJzermans

Research output: Book/ReportReportPopular

38 Downloads (Pure)
Original languageDutch
Place of PublicationEindhoven
PublisherTechnische Hogeschool Eindhoven
Number of pages27
Publication statusPublished - 1983

Publication series

NameDCT rapporten
Volume1983.048

Bibliographical note

WE 1983.048

Cite this

van Heck, J. G. A. M., Koekkoek, K. T. M., & IJzermans, J. M. M. (1983). "PEEKEL" verwerkingsprogramma voor metingen met een peekel CA 110 rekmeetsysteem, een 16 kanaals scanner en een DANA universeelmeter. (DCT rapporten; Vol. 1983.048). Eindhoven: Technische Hogeschool Eindhoven.
van Heck, J.G.A.M. ; Koekkoek, K.T.M. ; IJzermans, J.M.M. / "PEEKEL" verwerkingsprogramma voor metingen met een peekel CA 110 rekmeetsysteem, een 16 kanaals scanner en een DANA universeelmeter. Eindhoven : Technische Hogeschool Eindhoven, 1983. 27 p. (DCT rapporten).
@book{6fcebd3ebc5849298d41a86c02d01e05,
title = "{"}PEEKEL{"} verwerkingsprogramma voor metingen met een peekel CA 110 rekmeetsysteem, een 16 kanaals scanner en een DANA universeelmeter",
author = "{van Heck}, J.G.A.M. and K.T.M. Koekkoek and J.M.M. IJzermans",
note = "WE 1983.048",
year = "1983",
language = "Nederlands",
series = "DCT rapporten",
publisher = "Technische Hogeschool Eindhoven",

}

van Heck, JGAM, Koekkoek, KTM & IJzermans, JMM 1983, "PEEKEL" verwerkingsprogramma voor metingen met een peekel CA 110 rekmeetsysteem, een 16 kanaals scanner en een DANA universeelmeter. DCT rapporten, vol. 1983.048, Technische Hogeschool Eindhoven, Eindhoven.

"PEEKEL" verwerkingsprogramma voor metingen met een peekel CA 110 rekmeetsysteem, een 16 kanaals scanner en een DANA universeelmeter. / van Heck, J.G.A.M.; Koekkoek, K.T.M.; IJzermans, J.M.M.

Eindhoven : Technische Hogeschool Eindhoven, 1983. 27 p. (DCT rapporten; Vol. 1983.048).

Research output: Book/ReportReportPopular

TY - BOOK

T1 - "PEEKEL" verwerkingsprogramma voor metingen met een peekel CA 110 rekmeetsysteem, een 16 kanaals scanner en een DANA universeelmeter

AU - van Heck, J.G.A.M.

AU - Koekkoek, K.T.M.

AU - IJzermans, J.M.M.

N1 - WE 1983.048

PY - 1983

Y1 - 1983

M3 - Rapport

T3 - DCT rapporten

BT - "PEEKEL" verwerkingsprogramma voor metingen met een peekel CA 110 rekmeetsysteem, een 16 kanaals scanner en een DANA universeelmeter

PB - Technische Hogeschool Eindhoven

CY - Eindhoven

ER -

van Heck JGAM, Koekkoek KTM, IJzermans JMM. "PEEKEL" verwerkingsprogramma voor metingen met een peekel CA 110 rekmeetsysteem, een 16 kanaals scanner en een DANA universeelmeter. Eindhoven: Technische Hogeschool Eindhoven, 1983. 27 p. (DCT rapporten).