"PEEKEL" verwerkingsprogramma voor metingen met een peekel CA 110 rekmeetsysteem, een 16 kanaals scanner en een DANA universeelmeter

J.G.A.M. van Heck, K.T.M. Koekkoek, J.M.M. IJzermans

Research output: Book/ReportReportPopular

46 Downloads (Pure)
Original languageDutch
Place of PublicationEindhoven
PublisherTechnische Hogeschool Eindhoven
Number of pages27
Publication statusPublished - 1983

Publication series

NameDCT rapporten
Volume1983.048

Bibliographical note

WE 1983.048

Cite this