Abstract
Inleiding
We zeggen vaak ‘het is een kwestie van passen en meten’ en daarmee bedoelen we dat we zoeken naar een oplossing. Dat is de kern van wetenschappelijk onderzoek, maar ‘passen en meten’ op de schaal van atomen is ook in de letterlijke zin van toepassing op mijn vakgebied omdat we gebruik maken van het passen en mispassen van kristalroosters en omdat we op de atomaire schaal meten om de invloed van roosterspanningen te bestuderen. Ook in omgekeerde richting is ‘passen en meten’ van toepassing bij de studie van moderne halfgeleiderstructuren. Als we meten aan moderne halfgeleiderstructuren dan blijkt dat heel veel eigenschappen alleen in exact afgepaste vorm voorkomen. Deze eigenschap is uitermate interessant in toepassingen van halfgeleiderstructuren. Het is duidelijk dat onderwijs geven en organiseren ook een kwestie is van ‘passen en meten’.
| Original language | Dutch |
|---|---|
| Place of Publication | Eindhoven |
| Publisher | Technische Universiteit Eindhoven |
| Number of pages | 34 |
| ISBN (Print) | 978-90-386-1087-0 |
| Publication status | Published - 2007 |