Ontwerp van een IR meetapparaat : ten behoeve van karakterisatie van films en lagenstructuren op technische samples

J.J.J. van Eck, Technische Universiteit Eindhoven (TUE). Stan Ackermans Instituut. Fysische instrumentatie

Research output: ThesisPd Eng Thesis

Original languageDutch
QualificationDoctor of Philosophy
Awarding Institution
Supervisors/Advisors
  • Kroesen, Gerrit M.W., Supervisor
  • Valk, J., External supervisor
Award date1 Jan 1998
Place of PublicationEindhoven
Publisher
Print ISBNs90-5282-868-7
Publication statusPublished - 1998

Bibliographical note

Eindverslag

Cite this