Ontwerp van een IR meetapparaat : ten behoeve van karakterisatie van films en lagenstructuren op technische samples

J.J.J. van Eck, Technische Universiteit Eindhoven (TUE). Stan Ackermans Instituut. Fysische instrumentatie

Research output: Thesis › EngD Thesis

Original language	Dutch
Qualification	Doctor of Philosophy
Awarding Institution
Supervisors/Advisors	Kroesen, Gerrit M.W., Supervisor Valk, J., External supervisor
Award date	1 Jan 1998
Place of Publication	Eindhoven
Publisher	Technische Universiteit Eindhoven
Print ISBNs	90-5282-868-7
Publication status	Published - 1998

Eindverslag

Cite this

@phdthesis{b08dbdd665a24edd9396d9d3856b9a2a,

title = "Ontwerp van een IR meetapparaat : ten behoeve van karakterisatie van films en lagenstructuren op technische samples",

author = "{van Eck}, J.J.J. and {Technische Universiteit Eindhoven (TUE). Stan Ackermans Instituut. Fysische instrumentatie}",

note = "Eindverslag",

year = "1998",

language = "Nederlands",

isbn = "90-5282-868-7",

publisher = "Technische Universiteit Eindhoven",

type = "EngD Thesis",

}

TY - THES

T1 - Ontwerp van een IR meetapparaat : ten behoeve van karakterisatie van films en lagenstructuren op technische samples

AU - van Eck, J.J.J.

AU - Technische Universiteit Eindhoven (TUE). Stan Ackermans Instituut. Fysische instrumentatie

N1 - Eindverslag

PY - 1998

Y1 - 1998

M3 - EngD Thesis

SN - 90-5282-868-7

PB - Technische Universiteit Eindhoven

CY - Eindhoven

ER -