Numerical Schwarz-Christoffel methods in EMC analysis

A.P.J. Deursen, van; S. Kapora

Numerical Schwarz-Christoffel methods in EMC analysis

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Conference contribution › Academic › peer-review

Original language	English
Title of host publication	13ème colloque international et exposition sur la compatibilité électromagnétique (CEM06), St. Malo France
Place of Publication	St. Malo France
Publisher	Institut d'Électronique et de Télécommunication de Rennes
Pages	118-119
Publication status	Published - 2006
Event	conference; 13ème colloque international et exposition sur la compatibilité électromagnétique; 2006-04-04; 2006-04-06 - Duration: 4 Apr 2006 → 6 Apr 2006

Conference

Conference	conference; 13ème colloque international et exposition sur la compatibilité électromagnétique; 2006-04-04; 2006-04-06
Period	4/04/06 → 6/04/06
Other	13ème colloque international et exposition sur la compatibilité électromagnétique

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Deursen, van, A. P. J., & Kapora, S. (2006). Numerical Schwarz-Christoffel methods in EMC analysis. In 13ème colloque international et exposition sur la compatibilité électromagnétique (CEM06), St. Malo France (pp. 118-119). St. Malo France: Institut d'Électronique et de Télécommunication de Rennes.

@inproceedings{0db41773c1cc4fa1a1623cbc8bd7fac1,

title = "Numerical Schwarz-Christoffel methods in EMC analysis",

author = "{Deursen, van}, A.P.J. and S. Kapora",

year = "2006",

language = "English",

pages = "118--119",

booktitle = "13{\`e}me colloque international et exposition sur la compatibilit{\'e} {\'e}lectromagn{\'e}tique (CEM06), St. Malo France",

publisher = "Institut d'Électronique et de Télécommunication de Rennes",

address = "France",

}

Deursen, van, APJ & Kapora, S 2006, Numerical Schwarz-Christoffel methods in EMC analysis. in 13ème colloque international et exposition sur la compatibilité électromagnétique (CEM06), St. Malo France. Institut d'Électronique et de Télécommunication de Rennes, St. Malo France, pp. 118-119, conference; 13ème colloque international et exposition sur la compatibilité électromagnétique; 2006-04-04; 2006-04-06, 4/04/06.

Numerical Schwarz-Christoffel methods in EMC analysis. / Deursen, van, A.P.J.; Kapora, S.

13ème colloque international et exposition sur la compatibilité électromagnétique (CEM06), St. Malo France. St. Malo France : Institut d'Électronique et de Télécommunication de Rennes, 2006. p. 118-119.

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceeding › Conference contribution › Academic › peer-review

TY - GEN

T1 - Numerical Schwarz-Christoffel methods in EMC analysis

AU - Deursen, van, A.P.J.

AU - Kapora, S.

PY - 2006

Y1 - 2006

M3 - Conference contribution

SP - 118

EP - 119

BT - 13ème colloque international et exposition sur la compatibilité électromagnétique (CEM06), St. Malo France

PB - Institut d'Électronique et de Télécommunication de Rennes

CY - St. Malo France

ER -