Lead time reduction by optimal test sequencing

R. Boumen, I.S.M. Jong, de

    Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceedingConference contributionAcademic

    Abstract

    Het testen van machines neemt in het huidige ontwerp en productie fases binnen ASML ongeveer 30-50% van de totale doorlooptijd in. Om deze tijd te verkorten, worden er test strategieën gemaakt. Een van de belangrijke onderdelen van zo een test strategie is de test volgorde, oftewel de volgorde waarin testen worden uitgevoerd. Deze test volgordes worden op dit moment nog gemaakt door experts, maar zijn alles behalve optimaal voor tijd. In deze presentatie zullen we een methode laten zien die in staat is om automatisch een tijd optimale test volgorde te bepalen. De methode bepaalt een test volgorde met behulp van een model van het test probleem. De methode bepaalt een volgende test op basis van de uitkomst van een vorige test. Uiteindelijk zijn er vele mogelijke test volgordes, waarvan de kortste wordt gekozen.Om de doorlooptijd verkorting van deze methode te laten zien, is deze methode toegepast op een aantal test problemen voor een ASML TWINSCAN systeem. De gesimuleerde gemiddelde test tijd reductie is meer dan 20%, wat gelijk staat aan een doorlooptijd verkorting van 6-10%.
    Original languageEnglish
    Title of host publicationBits & Chips Conference
    Place of PublicationNetherlands, Veldhoven
    Publication statusPublished - 2005

    Fingerprint Dive into the research topics of 'Lead time reduction by optimal test sequencing'. Together they form a unique fingerprint.

    Cite this