Analyse van ultralichte elementen in Sialon glas door middel van EPMA/WDS

D. Graaf, de, A. Dommisse, X.E.E. Reynhout, G.F. Bastin, H.T.J.M. Hintzen

Research output: Contribution to journalArticleAcademicpeer-review

1 Downloads (Pure)

Abstract

Dit artikel geeft verslag van een haalbaarheidsstudie naar ultralichte-element analyses op glasachtige system en met behulp van Elektron Probe MicroAnalysis (EPMA) in combinatie met golflengte dispersieve spectrometrie (WDS) In dit artikel zal de nadruk gelegd worden op stikstofanalyses aan Sialon glazen. Hierbij zal uitgebreid ingegaan worden op de problematiek rond ultra lichte-element analyses aan slecht geleidende monsters Tenslotte zullen enkele resultaten van dergelijke analyses getoond en besproken worden. This article reports of a feasibility-study on ultra-light element analyses on glassy systems with the use of Elektron Probe MicroAnalysis (EPMA) in combination with Wavelength Dispersive Spectrometry (WDS) The focus of this article is on nitrogen analysis of Sialon glasses The problems, which arise when performing EPMA analysis on non-conductive samples, will be explained in detail Finally, some results of such analyses will be shown and evaluated.
Original languageDutch
Pages (from-to)15-18
JournalKGK, Tijdschrift voor Klei, Glas en Keramiek
Volume22
Issue number2
Publication statusPublished - 2001

Cite this